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课时安排：5天
上课地点：苏州
课程内容：TS五大工具到厂辅导 PPAP培训 APQP到厂培训 SPC到厂培训 MSA培训电话：* * 培训时间：5天，3180元/人培训特色：时间根据客户的时间安排，可连续也可分开培训TS五大工具实战培训大纲【课程背景】众所周知，TS16949的五大工具，即生产件批准程序（PPAP）、产品质量先期策划和控制计划（APQP）、潜在失效模式及后果分析（FMEA）、测量系统分析（MSA）、统计过程控制（SPC）构成了TS16949的核心。如何对产品质量进行先期策划和控制——APQP；如何执行生产件批准程序——PPAP；如何针对设计、过程的潜在失效模式进行后果分析——FMEA；如何对过程产生的数据进行统计和分析并反馈过程、控制过程——SPC如何建立满足测量要求的测量系统——MSA【参训对象】企业管理者代表、质量、生产、采购、研发等人员和与质量管理工作有关的人员及有兴趣的人员。【课程时间】4天(09:30-16:00)【课程大纲】第一部分：PPAP——生产件批准程序要求 一、通知顾客和提交要求二、必须向顾客提交的生产件批准PPAP.1、一种新零件或产品.2、对以前提交的零件不合格之处进行纠正3、由于设计规范、技术规范或材料改变及编号的工程更改。4、散装材料。三、无需通知顾客的情况四、提交的5个等级五、零件提交状态六、顾客PPAP状态（三种情况）七、过程要求八、记录和标准样品的保存九、案例分析第二部分： APQP——产品质量先期策划及控制计划一、样件制造—控制计划1、保证产品或服务符合所要求的规范和报告数据；2、保证已怪产品和过程特殊特性给予了特别的注意；3、使用数据和经验以制定初始过程参数和包装要求；4、将关注问题、变差和/或成本影响传达给顾客。二、过程指导书1、失效模式及后果分析（FMEA）2、控制计划3、工程图样、性能规范、材料规范、目视标准和工业标准4、过程流程图5、车间平面布置图6、特性矩阵图7、包装标准8、过程参数9、生产者对过程和产品的经验和知识10、搬运要求11、过程的操作者三、试生产1、初始过程能力研究2、测量系统评价3、最终可行性4、过程评审5、生产确认试验6、生产件批准7、包装评价8、首次能力（FTC）9、质量策划认定四、生产控制计划1、零件控制计划2、过程的体系控制计划3、案例分析第三部分：FMEA——潜在失效模式及后果分析一、各项重要的FMEA定义 1、严重度S2、产生概率O3、发现度D4、当前的控制C5、关键特性CR6、重要特性77、风险系数RPN等二、DFMEA应用及案例分析1、产品设计从哪里开始2、进行DFMEA的步骤3、DFMEA的七大错误、案例分析4、DFMEA使用表格介绍5、降低产品失效风险的七种解决方案、案例分析三、PFMEA的七大步骤、案例分析1、确定被分析的缺陷名称2、确定潜在失效后果3、确定严重度（S）、根据严重度（S）的评价准则进行评价4、确定缺陷产生的原因5、确定失效产生的频度（O）、根据失效产生的频度（O）的评价准则进行评价6、确定缺陷被发现的概率（D）、根据失效被发现的概率（D）的评价准则进行评价7、计算风险顺序RPN并寻找纠正措施四、实施FMEA常见的问题案例分析，现场答疑第四部分：SPC——统计过程控制一、质量数据的基本知识1、计数值与计量值2、标准偏差σ与方差3、总体、样本与样品4、平均值X-bar、中位值X~、极差R、波动性与规律性等5、过程能力、过程能力指数Ca 、CP、CPK、PP、PPK二、过程控制与过程改进、案例分析三、管制图的实际应用1、平均值与全距管制图（X-bar-R chart）；案例分析+案例练习2、平均值与標准差管制图（X-b chart）；案例分析+案例练习3、中位值与全距管制图（X~-R chart）；案例分析+案例练习4、不良率管制图（P chart）；案例分析+案例练习5、不良数管制图（Pn chart）；案例分析+案例练习6、缺点数管制图（C chart）；案例分析+案例练习7、单位缺点数管制图（U chart）；案例分析+案例练习四、管制图的信号解释、制程异常的判断、案例分析五、过程变差分析（4M1E）六、SPC与D -M -A -I –C循环、案例分析七、过程能力与过程能力/性能指数八、Ca、CP、CPK、PP、PPK的计算、案例练习九、过程能力的评价准则及其应用第五部分：MSA——测量系统分析 一、MSA基本概念介绍二、影响测量系统精度的几大因素及如何控制三、测量系统五大特性研究和策划1、偏倚量 (Bias)2、线性 (Linearity)3、稳定性 (Stability)4、重复性 (Repeatability)5、再现性 (Reproducibility)6、如何做测量系统的GRR分析？案例练习四、测量变差如何识别和分析？如何采取措施进行控制？案例分析五、测量系统分析和研究1、计量型/计数型数据的量具短期/长期研究2、测量系统错误3、长期研究图形分析法、ANOVA